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溫度循環(huán)與溫度沖擊的不同點(diǎn)
溫度沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格：
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型號(CM) |
SET-A |
SET-B |
SET-C |
SET-D |
SET-G |
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內(nèi)部尺寸 |
40×35×35 |
50×50×40 |
60×50×50 |
70×60×60 |
80×70×60 |
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外部尺寸 |
140×165×165 |
150×190×175 |
160×190×185 |
170×240×195 |
180×260×200 |
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結(jié)構(gòu) |
三廂式（預(yù)冷箱）（預(yù)熱箱）（測試箱） |
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氣門裝置 |
強(qiáng)制的空氣裝置氣門 |
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內(nèi)箱材質(zhì) |
SUS#304不銹鋼 |
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外箱材質(zhì) |
冷軋鋼板靜電噴塑 |
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冷凍系統(tǒng) |
機(jī)械壓縮二元式 復(fù)疊制冷方式 |
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轉(zhuǎn)換時(shí)間 |
＜10Sec |
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溫度恢復(fù)時(shí)間 |
＜5min |
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溫度偏差 |
±2℃ |
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冷卻方式 |
水冷 |
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駐留時(shí)間 |
30 min |
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溫度范圍 |
預(yù)熱溫度 |
+60～200℃（40min） |
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高溫沖擊 |
+60～150℃ |
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預(yù)冷溫度 |
+20℃～-80℃（70min） |
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低溫沖擊 |
-10℃～-40℃/-55℃/-65℃ |
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溫度傳感器 |
JIS RTD PT100Ω × 3 (白金傳感器) |
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控制器 |
液晶顯示觸摸屏PLC控制器 |
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控制方式 |
靠積分飽和PID，模糊算法 平衡式調(diào)溫P.I.D + P.W.M + S.S.R |
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標(biāo)準(zhǔn)配置 |
附照明玻璃窗口1套、試品架2個(gè)、測試引線孔1個(gè) |
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保護(hù)功能 |
漏電、短路、超溫、缺水、電機(jī)過熱、壓縮機(jī)超壓、超載、過電流保護(hù) |
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電源電壓 |
AC380V 50Hz三相四線+接地線 |
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不同點(diǎn)：
1. 定義
溫度循環(huán) ：高溫和低溫之間緩慢變化，具體可參考之前的文章。
溫度沖擊 ：通過快速切換極限溫度，測試產(chǎn)品在劇烈溫度變化下的抗性，模擬航空航天或電子設(shè)備中的突發(fā)溫差場景。
2. 高低溫保持時(shí)間（Soak Time）
一般達(dá)到產(chǎn)品熱平衡溫度即可，所以不同產(chǎn)品保持時(shí)間都不一樣，需根據(jù)實(shí)際（測試/摸底）情況來定義。有觀點(diǎn)認(rèn)為溫度循環(huán)產(chǎn)品各個(gè)部分都需要達(dá)到熱平衡，而溫度沖擊核心區(qū)域達(dá)到熱平衡即可（俺表示不認(rèn)同）。
溫度循環(huán) ：目的：確保樣品內(nèi)部達(dá)到熱平衡，以暴露累積疲勞損傷。
影響因素：樣品質(zhì)量、是否通電等。
溫度沖擊 ：目的：快速施加極限熱應(yīng)力，關(guān)注瞬時(shí)失效機(jī)制。
若產(chǎn)品均需達(dá)到熱平衡，則溫度沖擊高低溫保留時(shí)間應(yīng)較溫度循環(huán)高低溫保留時(shí)間更短，為啥？因?yàn)闇囟妊h(huán)溫變速率慢，產(chǎn)品內(nèi)部溫升較溫度沖擊高。
3. 溫變速率
溫度循環(huán) ：較慢（≤20℃/分鐘），模擬實(shí)際環(huán)境中的漸變溫差。
溫度沖擊 ：很快（>30℃/分鐘），模擬極限環(huán)境中的驟變溫差，實(shí)際均用兩箱或三箱式溫箱，溫度切換快。
4. 應(yīng)力場景
溫度循環(huán) ：模擬電子產(chǎn)品開關(guān)機(jī)、晝夜溫差等緩慢溫度變化。
強(qiáng)調(diào)長期熱膨脹和收縮效應(yīng)。
溫度沖擊 ：SETH/賽思檢測設(shè)備模擬從恒溫環(huán)境突然進(jìn)入極限溫度（如室外極寒氣候）、設(shè)備啟動時(shí)的瞬間溫差變化、高空飛行等極限場景（回流焊、干燥、維修等制造、修理工藝中劇烈的溫度變化）。
強(qiáng)調(diào)瞬間熱應(yīng)力集中。
5. 測試目的
溫度循環(huán) ：評估材料在長期使用中因熱膨脹系數(shù)（CTE-Coefficients of Thermal Expansion）不匹配導(dǎo)致的失效。
關(guān)注材料的耐久性和可靠性，測試時(shí)間為數(shù)百次循環(huán)。
溫度沖擊 ：確定部件對極限溫度突變的抗性，暴露材料或工藝缺陷。
關(guān)注產(chǎn)品的即時(shí)性能和結(jié)構(gòu)完整性，測試時(shí)間較短。
6. 測試原理
溫度循環(huán) ：核心：漸變應(yīng)力的累積效應(yīng)。
方法：通過緩慢溫度變化（1～5℃/min）模擬長期熱脹冷縮過程，評估材料間的熱匹配性和疲勞壽命。
溫度沖擊 ：核心：驟變應(yīng)力的瞬時(shí)破壞。
方法：通過快速溫度變化（≥30℃/min）引發(fā)材料內(nèi)部瞬間應(yīng)力集中，暴露封裝結(jié)構(gòu)的脆性斷裂或界面分離缺陷。
7. 失效模式
溫度循環(huán) ：主要失效模式：蠕變疲勞（Creep Fatigue）、應(yīng)力松弛（Stress Relaxation） 。
典型現(xiàn)象：焊點(diǎn)開裂、引腳損壞、密封失效、PCB分層、BGA互連缺陷。
材料問題：陶瓷與金屬界面因反復(fù)膨脹收縮產(chǎn)生裂紋，焊點(diǎn)蠕變導(dǎo)致電氣連接失效，環(huán)氧樹脂與陶瓷基板因CTE不匹配引發(fā)分層。
溫度沖擊 ：主要失效模式：拉伸過應(yīng)力（Tensile Overstress）和 拉伸疲勞（Tensile Fatigue） 。
典型現(xiàn)象：金絲鍵合點(diǎn)脫落、倒裝芯片凸點(diǎn)失效、芯片開裂、封裝開裂。
材料問題：脆性材料直接斷裂（陶瓷外殼在驟冷驟熱下因內(nèi)部應(yīng)力集中直接斷裂）、界面剝離（金絲鍵合點(diǎn)或倒裝芯片凸點(diǎn)因瞬時(shí)熱應(yīng)力脫離基板）、氣密性封裝泄漏（氣密性封裝（如金屬-陶瓷密封）在劇烈溫差下泄漏率超標(biāo)）。
8. 測試設(shè)備
溫度循環(huán) ：單槽式恒溫箱，溫度在高低溫之間逐漸變化。
溫度沖擊 ：多槽式（熱/冷室）或快速過渡裝置（如氣-氣或液-液切換）。
9. 費(fèi)用與測試時(shí)間
溫度循環(huán) ：費(fèi)用較低，但整體測試時(shí)間較長（數(shù)百次至數(shù)千次循環(huán)），更多應(yīng)用于溫度循環(huán)加速壽命類測試。
溫度沖擊 ：費(fèi)用較高，但測試時(shí)間較短（一般到幾百次的水平）。
10. 應(yīng)用邏輯
溫度循環(huán) ：關(guān)注長期疲勞累積，適用于壽命預(yù)測與材料優(yōu)化。
典型失效：焊點(diǎn)疲勞、材料老化。
溫度沖擊 ：關(guān)注工藝缺陷篩查與極限環(huán)境驗(yàn)證。
典型失效：脆性斷裂、界面剝離。
11. 測試標(biāo)準(zhǔn)
溫度循環(huán) ：MIL-STD-883, Method 1010，JESD22-A104，JESD22-A105，IEC 60068-2-14
溫度沖擊 :MIL-STD-750，MIL-STD-202, Method 107，MIL-STD-810, Method 503，IEC 60068-2-14