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手機(jī)的生產(chǎn)過(guò)程測(cè)試是怎么進(jìn)行的

日期：2026-01-09 08:28

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摘要：

???? 為滿足大批量生產(chǎn)的需要，手機(jī)生產(chǎn)測(cè)試必須考慮測(cè)試接口。常用的測(cè)試接口有系統(tǒng)連接器和射頻連接器。系統(tǒng)連接器是手機(jī)上的數(shù)據(jù)接口，主要用于手機(jī)和計(jì)算機(jī)通訊，包括測(cè)試命令的輸入和在線下載等。高低溫沖擊試驗(yàn)箱手機(jī)在校準(zhǔn)時(shí)，計(jì)算機(jī)運(yùn)行生產(chǎn)測(cè)試軟件，控制綜測(cè)儀和手機(jī)測(cè)試狀態(tài)，計(jì)算機(jī)通過(guò)系統(tǒng)連接器，與手機(jī)進(jìn)行通訊，不斷調(diào)整各種參數(shù)，使手機(jī)的性能指標(biāo)達(dá)到規(guī)范要求。射頻連接器是手機(jī)主板上的射頻測(cè)試接口，是手機(jī)與儀器的射頻測(cè)試通道。由于手機(jī)外形尺寸和空間的限制，手機(jī)一般都采用微型射頻連接器。有的設(shè)計(jì)方案是把射頻連接器和系統(tǒng)連接器結(jié)合在一起。也有的設(shè)計(jì)方案考慮成本因素，不使用射頻連接器，而在主板上將天線的接入觸點(diǎn)作為射頻測(cè)試點(diǎn)。 高低溫沖擊試驗(yàn)箱　　針對(duì)手機(jī)測(cè)試的工位有：FLASH 燒錄，板號(hào)寫(xiě)入，主板測(cè)試，主板校準(zhǔn)，整機(jī)功能測(cè)試，整機(jī)終測(cè)等。　　以下對(duì)各測(cè)試環(huán)節(jié)作一簡(jiǎn)單的介紹。　　（1）FLASH 燒錄　　一部正常工作的手機(jī)，除了要有硬件、結(jié)構(gòu)件外，還必須要有軟件支持。手機(jī)下載軟件一般是在FLASH 芯片貼　　片前將程序燒錄在芯片中，或者等到貼片完成后采用在線下載。　　在線下載方式的優(yōu)點(diǎn)是靈活，如貼片完成后，或已裝成整機(jī)后，需對(duì)軟件進(jìn)行升級(jí)，該方式就比較適合。但在大批量生產(chǎn)過(guò)程中，芯片燒錄方式則效率更高。對(duì)于一款手機(jī)，如果用在線方式下載程序，需要的時(shí)間是10 分鐘，改用芯片燒錄方式下載同樣的程序，只需約3~4 分鐘。同時(shí)，在芯片燒錄過(guò)程中，對(duì)該器件具有檢測(cè)作用。如某款手機(jī)，在生產(chǎn)初期，手機(jī)軟件采用在線下載的方式，發(fā)現(xiàn)有少量手機(jī)不能正常下載，換FLASH 后正常。高低溫沖擊試驗(yàn)箱在**次生產(chǎn)時(shí)，改用芯片燒錄方式下載軟件，燒錄過(guò)程中發(fā)現(xiàn)有2% 的FLASH 不正常。通過(guò)這種方式，可以將**FLASH 檢查出來(lái)，避免在帖片后，才發(fā)現(xiàn)器件**問(wèn)題，減少了手機(jī)維修成本。　?。?）板號(hào)寫(xiě)入　　手機(jī)主板上有中央處理器和存儲(chǔ)器，貼片完成后，在主板上貼上一個(gè)條碼，作為板號(hào)（主板的**編號(hào)Barcode），并通過(guò)計(jì)算機(jī)、掃描儀和數(shù)據(jù)線將板號(hào)寫(xiě)入主板的存儲(chǔ)器中。板號(hào)能正確寫(xiě)入，表明手機(jī)系統(tǒng)連接器輸入輸出電路基本正常。在后續(xù)的測(cè)試中，該板號(hào)與測(cè)試結(jié)果相聯(lián)系，通過(guò)板號(hào)可以查詢生產(chǎn)過(guò)程的測(cè)試記錄。　?。?）主板測(cè)試　　與傳統(tǒng)的ICT 測(cè)試有區(qū)別的是手機(jī)測(cè)試無(wú)法提供大量的測(cè)試點(diǎn)。但手機(jī)主板本身包括了電源管理電路、射頻收發(fā)電路、基帶信號(hào)處理芯片、中央處理器、存儲(chǔ)器、電源輸入口、顯示接口、鍵盤(pán)等電路，接近一個(gè)完整的系統(tǒng)，可以用其接口電路對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。主板測(cè)試主要包括以下幾個(gè)部分：關(guān)機(jī)漏電流、電池校準(zhǔn)、充電測(cè)試、鍵盤(pán)電路測(cè)試和音頻電路測(cè)試高低溫沖擊試驗(yàn)箱、振動(dòng)和振鈴電路測(cè)試。測(cè)試完成后，寫(xiě)入該工位的生產(chǎn)測(cè)試信息。　　在主板測(cè)試項(xiàng)目中，需要有測(cè)試點(diǎn)、測(cè)試夾具、計(jì)算機(jī)、可控雙路輸出電源、可控三用表電表、數(shù)據(jù)線、GPIB卡、GPIB 線和生產(chǎn)測(cè)試程序的配合。在生產(chǎn)初期，可以測(cè)試全部的項(xiàng)目；在生產(chǎn)穩(wěn)定后，可根據(jù)故障統(tǒng)計(jì)，優(yōu)化測(cè)試項(xiàng)目以加快測(cè)試速度。該測(cè)試工位的設(shè)置，可以將貼片造成的**品檢測(cè)出來(lái)，從而提高校準(zhǔn)測(cè)試工位的效率。　　（4）主板校準(zhǔn) 　　主板校準(zhǔn)主要包括發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的射頻指標(biāo)校準(zhǔn)。發(fā)射機(jī)校準(zhǔn)包括：APC 校準(zhǔn)、包絡(luò)調(diào)整、AFC 頻率補(bǔ)償校準(zhǔn)、溫度補(bǔ)償校準(zhǔn)等。接收機(jī)校準(zhǔn)包括：AGC 校準(zhǔn)、RSSI校準(zhǔn)等。主板校準(zhǔn)是手機(jī)生產(chǎn)測(cè)試的核心，手機(jī)的各項(xiàng)性能指標(biāo)主要依靠校準(zhǔn)工位調(diào)整參數(shù)，使之滿足產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)。　　通過(guò)主板測(cè)試和主板校準(zhǔn)，已經(jīng)檢測(cè)了主板的絕大部分電路。校準(zhǔn)完成后，寫(xiě)入該工位的生產(chǎn)測(cè)試信息。手機(jī)主板經(jīng)過(guò)組裝工位，進(jìn)入整機(jī)功能測(cè)試。　?。?）整機(jī)功能測(cè)試　　在該工位，手機(jī)主板已組裝成整機(jī)，測(cè)試人員需通過(guò)工程模式配合，檢查手機(jī)主要功能是否正常。　　在大批量生產(chǎn)過(guò)程中，對(duì)測(cè)試的要**高效率、低成本、高低溫沖擊試驗(yàn)箱可靠性。手機(jī)軟件工程測(cè)試模式的應(yīng)用，極大的提高了整機(jī)功能測(cè)試效率和覆蓋率。手機(jī)工程測(cè)試模式就是利用手機(jī)軟件，啟動(dòng)手機(jī)振鈴、振動(dòng)、鍵盤(pán)輸入、音頻環(huán)路、信號(hào)指示燈、顯示器等單元工作，測(cè)試人員可以非常方便地檢查該項(xiàng)功能。例如，某款手機(jī)在生產(chǎn)初期入庫(kù)檢驗(yàn)時(shí)，發(fā)現(xiàn)有的手機(jī)無(wú)法送話。經(jīng)檢查，發(fā)現(xiàn)在整個(gè)生產(chǎn)環(huán)節(jié)，缺乏對(duì)音頻通道的有效測(cè)試。對(duì)于音頻環(huán)路這一測(cè)試項(xiàng)目，2 秒就可以完成，無(wú)需儀器配合。從提高綜合測(cè)試儀器利用率角度來(lái)考慮工位的設(shè)置，將整機(jī)功能測(cè)試，放在整機(jī)終測(cè)之前比較合適。在整機(jī)裝配時(shí)，如組裝鍵盤(pán)、機(jī)殼、LCD 模塊、聽(tīng)筒、主板等，難免會(huì)出現(xiàn)**品。在功能測(cè)試時(shí)，該**品被及時(shí)檢查出，送到維修工位，而不是進(jìn)入整機(jī)終測(cè)，這就避免了一部分手機(jī)的重復(fù)測(cè)試。　?。?）整機(jī)終測(cè) 　　校準(zhǔn)完成后的手機(jī)，其性能是否滿足規(guī)范要求，或機(jī)殼裝配是否對(duì)性能有影響，需通過(guò)終側(cè)來(lái)驗(yàn)證。手機(jī)通過(guò)數(shù)據(jù)接口接收測(cè)試程序指令，再通過(guò)射頻接口與測(cè)試儀器相連接，就可以測(cè)試發(fā)射機(jī)的功率、包絡(luò)、頻率、相位、接收機(jī)靈敏度等指標(biāo)。整機(jī)測(cè)試完成后，計(jì)算機(jī)向手機(jī)寫(xiě)入相應(yīng)生產(chǎn)測(cè)試信息。對(duì)于一個(gè)測(cè)試工位，測(cè)試項(xiàng)目的先后次序，高低溫沖擊試驗(yàn)箱會(huì)對(duì)生產(chǎn)線效率產(chǎn)生直接的影響。對(duì)于手機(jī)失敗率高的測(cè)試項(xiàng)目，要考慮*先測(cè)試，這也是生產(chǎn)測(cè)試程序優(yōu)化的內(nèi)容之一。如果大部分測(cè)試項(xiàng)目完成后才發(fā)現(xiàn)失敗的項(xiàng)目，就意味著已進(jìn)行的測(cè)試都是無(wú)效的，就必須全部重新測(cè)試。測(cè)試工位的正確設(shè)置和生產(chǎn)過(guò)程的有效控制是手機(jī)質(zhì)量保障的前提。在手機(jī)生產(chǎn)過(guò)程中，生產(chǎn)測(cè)試信息的引入對(duì)于控制手機(jī)生產(chǎn)質(zhì)量起著重要作用。生產(chǎn)測(cè)試信息，就是手機(jī)主板或整機(jī)在經(jīng)過(guò)某一測(cè)試工位檢測(cè)后，計(jì)算機(jī)向手機(jī)寫(xiě)入相應(yīng)狀態(tài)信息，包括經(jīng)過(guò)該工位測(cè)試成功，或測(cè)試失敗標(biāo)志位以及失敗的項(xiàng)目代碼、生產(chǎn)日期和地點(diǎn)等代碼。在下一個(gè)測(cè)試工位，計(jì)算機(jī)首先讀取并檢查手機(jī)存儲(chǔ)器某一地址是否通過(guò)前一測(cè)試工位，并檢查是否有測(cè)試結(jié)果成功的標(biāo)志位，如沒(méi)有該標(biāo)志位，計(jì)算機(jī)立刻給出提示并停止測(cè)試。生產(chǎn)測(cè)試信息的運(yùn)用，從根本上防止了漏測(cè)現(xiàn)象的發(fā)生，降低手機(jī)返工和重復(fù)測(cè)試的可能，從而有效地控制手機(jī)的生產(chǎn)成本。高低溫沖擊試驗(yàn)箱 　　生產(chǎn)測(cè)試信息的應(yīng)用，還有利于對(duì)**品的控制管理。對(duì)于手機(jī)測(cè)試的失敗項(xiàng)目，計(jì)算機(jī)向手機(jī)寫(xiě)入故障代碼。在維修工位，**品可通過(guò)板號(hào)查到測(cè)試數(shù)據(jù)，也可通過(guò)故障代碼與相關(guān)電路對(duì)照表，定位故障，提高了手機(jī)維修的效率。

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